引言寬帶隙鈣鈦礦（1.68eV）是兩端鈣鈦礦/矽疊層太陽電池的重要前電池吸光材料。然而，這類寬帶隙鈣鈦礦太陽電池中存在大量缺陷誘導的非輻射電荷複合，導致器件開路電壓（VOC）遠低於理論值，嚴重限製了器件效率的進一步提升。深能級受體缺陷是影響VOC的主要因素，缺陷鈍化是提供器件效率的有效策略。TOF-SIMS應用成果近日，陝西師範大學方誌敏&馮江山&劉生忠團隊通過采用氟化物輔助表麵梯度鈍化的策略獲得了光電轉換效率（PCE）高達21.63%，VOC達1.239V（VOC損失低至4...

回顧2022年，ULVAC-PHI各個係列的XPS儀器——VersaProbe、Quantera和Quantes對科研發展和技術進步做出了重要貢獻。據統計，借助PHIXPS設備，2022年已發表超過4400篇的學術出版物，包括期刊文章和書籍等。其中，有99項工作發表在《Nature》和《Science》等高影響力期刊上。例如，菠萝菠萝蜜在线观看的用戶利用PHIVersaProbe設備對嵌入磁性CoNi合金顆粒的摻氮碳纖維複合材料表麵進行了表征，研究發現該材料表現出優異的電磁波吸收性能。該項...

引言光伏發電新能源技術對於實現碳中和目標具有重要意義。近年來，基於有機-無機雜化鈣鈦礦的光電太陽能電池器件取得了飛速的發展，目前報道的光電轉化效率已接近26%。鹵化物鈣鈦礦材料具有無限的組分調整空間，因此表現出優異的可調控的光電性質。然而，由於多組分的引入，鈣鈦礦材料生長過程中會出現多相競爭問題，導致薄膜初始組分分布不均一，這嚴重降低了器件效率和壽命。圖1.鈣鈦礦晶體結構TOF-SIMS應用成果由於目前用於高性能太陽能電池的混合鹵化物過氧化物中的陽離子和陰離子的混合物經常發生...

XPS的探測深度在10nm以內，然而對於實際的器件，研究對象往往會超過10nm的信息深度，特別是在一些電氣設備中，有源層總是被掩埋在較厚的電極之下。因此，利用XPS分析此類樣品，需要結合離子刻蝕技術。顯然，離子刻蝕存在擇優濺射效應，特別是對於金屬氧化物，會破壞樣品原始的化學態，導致隻憑常規XPS無法直接對埋層區域進行無損深度分析。好在研究表明增加菠萝蜜三级片的光子能量可以增加探測深度。對此，ULVAC-PHI推出了實驗室HAXPES設備，且可同時配備微聚焦單色化AlKα(1486....

XRR是什麽?XRR是一種方便、快速的分析單層或多層薄膜和表麵的方法，是一種納米尺度上的分析方法，同時可實現無損分析。例如，通過原子層沉積(ALD)技術沉積的薄膜可以用XRR表征薄膜的厚度、密度和界麵的粗糙度，同樣也適用於其他方法製備的薄膜，如通過分子層沉積(MLD)沉積的有機/無機超晶格。與光學橢偏法不同，該方法不需要預先了解薄膜的光學性質，也不需要假設薄膜的光學性質。然而，XRR不能提供有關材料晶體結構的信息，並且多層膜隻能在有限的深度內表征。XRR簡單原理介紹XRR分析...

飛行時間二次離子質譜（TOF-SIMS），也叫靜態二次離子質譜，是飛行時間和二次離子質譜結合的一種新的表麵分析技術。因其免標記、高靈敏、多組分檢測和高空間分辨成像等優勢，為諸多生命科學問題的研究提供了重要的技術支持。近年來，TOF-SIMS在基礎細胞生物學、組織生理病理學、生物醫藥與臨床醫學等領域的研究中被廣泛應用。圖1.“水中小白鼠”斑馬魚（左）；冷凍幹燥的斑馬魚頭部截麵的光學顯微鏡圖像（右）。小科普：斑馬魚（zebrafish）被稱為“水中小白鼠”，是生物學家的理想實驗對...

鋰離子電池(LIBs)和鋰金屬電池(LMB)都是多層的複雜體係，具有多種材料和界麵，每個膜層和界麵在性能和穩定性方麵都起著關鍵作用。調整這些材料的組成和形態就可以創建更穩定、性能更高的器件，但這些材料非常難以處理和表征。鋰金屬極其容易發生化學反應，形成枝晶，枝晶會刺穿隔膜造成短路，鋰金屬負極在充放電過程中也會明顯收縮，破壞保護的固體電解質(SEI)膜，降低使用壽命和效率。SEI膜形成的LiF層可以對金屬鋰表麵起到鈍化效果，減少鋰枝晶的形成，以提高電池的耐用性，因此開發性能穩定...

殘餘應力是材料在經過焊接、鑄造、成型、機械加工或薄膜沉積等過程中殘留在材料中的內應力。殘餘應力分析對於了解這些內應力如何影響部件的性能和使用壽命非常重要。此外，殘餘應力分析還可以確定特定的材料特性和失效機製，從而用於構件和零件的設計。傳統上，殘餘應力的測試隻能在大型落地式衍射儀上進行，台式衍射儀通常用於簡單的測試項目，比如物相分析。而D6PHASER是一款多功能台式衍射儀，它不僅可以進行常規的粉末衍射分析，還可以進行薄膜測試（GID、XRR）、織構和應力測試、對分布函數測試（...